Пресс-Релизы

Компания Keithley обновила пакет программ для автоматизированного измерения параметров

15 April, 2013, МоскваSKC-Agency

Пакет программ ACSV5.0 – последнее обновление линейки решений компании Keithley для тестирования силовых полупроводниковых приборов

Москва, 15 апреля 2013 г. – Компания Keithley Instruments, Inc., мировой лидер в сфере производства электронных контрольно-измерительных приборов и систем, объявила о расширении своего пакета программ для автоматизированного измерения параметров (ACS), который дополняет ее растущее семейство решений для силовых полупроводниковых приборов. Пакет ACS оптимизирован для автоматизированных измерений на полупроводниковых пластинах, включая автоматическое измерение характеристик, анализ надежности и тестирование заведомо хороших кристаллов. Обновленная версия ACS V5.0 расширяет функции системных источников-измерителей SourceMeter® Keithley модели 2651A (большой ток) и модели 2657A (высокое напряжение), позволяя выполнять автоматизированное тестирование на уровне полупроводниковых пластин таких силовых полупроводниковых приборов, как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т.п. Чтобы узнать больше, посетите страницу http://www.keithley.com/products/semiconductor/characterizationsoftware.

Версия ACS V5.0 включает целый ряд усовершенствований:

  • Библиотека силовых устройств для применения с системными источниками-измерителями SourceMeter® модели 2651A (до 50 A или до 100 A при подключении двух приборов) и модели 2657A (до 3000 В), которые поддерживают тестирование многовыводных силовых компонентов в сочетании с маломощными приборами SourceMeter серии 2600B или анализатором параметров полупроводниковых приборов 4200-SCS, для ускорения и упрощения создания сценариев тестирования силовых полупроводниковых приборов, таких как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т.п.
  • Поддержка аппаратного сканирования, распознания и управления конфигурацией мощных моделей 2651A и 2657A, что позволяет пользователям быстро подключать эти приборы к ПК, устанавливать соединение и приступать к тестированию.
  • Поддержка источников-измерителей серии 2600, оборудованных интерфейсом TSP-Link®, которые используют технологию встроенного процессора сценариев испытаний (TSP®) для организации многопроцессорной среды, обеспечивающей высокую параллельную производительность, одновременно ускоряя и упрощая разработку тестов.
  • Примеры тестов, таких как высоковольтное тестирование надежности на уровне кремниевой пластины (WLR), которые опираются на широкий диапазон функций тестирования надежности маломощных устройств, предлагаемых в предшествующих версиях ACS, что дает пользователям превосходную отправную точку для быстрой модификации и создания новых тестов.
  • Поддержка измерения ВФХ в диапазоне ±200 В опцией силовых измерений модели 4200-CVU-PWR C-V для анализатора 4200-SCS, которая позволяет измерять ВАХ и ВФХ в широких пределах для наиболее полного определения характеристик силовых полупроводниковых компонентов.

О пакете ACS

Программный пакет ACS объединяет несколько приборов в единую измерительную систему, оптимизированную по гибкости, скорости и производительности тестирования и анализа. Его интуитивный графический интерфейс упрощает настройку измерительных приборов, выбор параметров измерения, выполнение измерений ВАХ и отображение результатов. Пользователи могут пройти весь путь от создания нового теста до измерения параметров новых устройств за малую часть того времени, которое они потратили бы, применяя старые методы разработки тестов. Не менее важно и то, что ACS предлагает все инструменты, необходимые для настройки теста, анализа данных и экспорта результатов – не выходя из среды ACS. Пакет ACS предназначен для выполнения тестов с помощью полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций. Кроме того, компания Keithley предлагает программное обеспечение ACS Basic Edition для измерения параметров полупроводниковых приборов с помощью ручных пробников или тестовой оснастки.

Наличие

ACS V5.0 выпускается для работы с различными измерительными приборами Keithley и в разных конфигурациях. Пользователи предыдущих версий могут обратиться в представительство компании за рекомендациями по обновлению ACS.

Дополнительная информация

Посетите страницу http://www.keithley.ru/products/semiconductor/characterizationsoftware или обратитесь на сайт компании: www.keithley.ru.

О компании Keithley Instruments, Inc.

Имея более чем 60-летний опыт работы, компания Keithley Instruments является мировым лидером в производстве электронных контрольно-измерительных приборов и систем. Клиентами компании являются ученые и инженеры, работающие в электронной промышленности и занимающиеся разработкой и изготовлением полупроводниковых приборов, анализом параметров материалов и производством конечных изделий, таких как мобильные беспроводные устройства. Привлекательность нашей продукции заключается в том, что мы не только предлагаем потребителям приборы для выполнения ответственных измерений, но и глубоко понимаем решаемые ими задачи, что позволяет повысить качество выпускаемой ими продукции и сократить расходы на ее тестирование. В 2010 г. Keithley Instruments вошла в состав компании Tektronix, и приборы Keithley пополнили линейку контрольно-измерительного оборудования.

Упомянутые наименования компаний и продуктов являются товарными знаками или торговыми марками соответствующих владельцев.